#FORMATSTRONGID_1#
如今的設(shè)計(jì)通常非常復(fù)雜,在測試中需要多種激勵(lì)信號(hào)。泰克函數(shù)發(fā)生器具有標(biāo)準(zhǔn)波形、任意波形功能和信號(hào)損傷選項(xiàng),通過一臺(tái)儀器來支持廣泛的應(yīng)用需求。強(qiáng)勁的函數(shù)發(fā)生器性能保證準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)信號(hào)。
任意波函數(shù)發(fā)生器
驗(yàn)證連接 DUT 后輸出波形nstaView™ 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT 后的實(shí)時(shí)波形,無需使用示波器或其他設(shè)備,節(jié)省測試時(shí)間并避免因阻抗不匹配導(dǎo)致的實(shí)驗(yàn)錯(cuò)誤。一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試AFG31000 是一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器?,F(xiàn)在,您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個(gè)具有可變脈沖寬度(從 20 ns 到 150 µs)的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動(dòng)編輯。測量開關(guān)器件參數(shù)并評(píng)估MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動(dòng)態(tài)性能。
高保真度信號(hào)與高級(jí)模式
打開包裝后,在連續(xù)模式下每通道可以生成高達(dá) 16 M 點(diǎn)的精確長波形。可變采集時(shí)鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級(jí),您可以進(jìn)一步提高測試水平并只需花費(fèi)傳統(tǒng) AWG 十分之一的成本進(jìn)行復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯。
產(chǎn)品選配功能升級(jí),您可以:
將內(nèi)存擴(kuò)展為每通道 128 M 點(diǎn)(選件 MEM)
多達(dá) 25 項(xiàng)輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式(選件 SEQ)用于:循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、手動(dòng)觸發(fā)、定時(shí)觸發(fā)和 SCPI 命令,以便創(chuàng)建時(shí)序靈活、復(fù)雜的長波形。
簡化任意波形創(chuàng)建 內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作,無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。 幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在波形中,因此,在加載標(biāo)準(zhǔn)化 ARB 后,無需調(diào)整設(shè)置。
智能用戶界面 使用超大的 AFG 觸摸屏更快地學(xué)習(xí)和工作。 9 英寸的屏幕的工作原理和智能設(shè)備類似,因此,您可以通過手指縮放和滾動(dòng)以便輕松找到設(shè)置和參數(shù)并查找常用設(shè)置的快捷鍵。如果您不止需要兩條波形通道來模擬被測設(shè)備 (DUT),多臺(tái)同步設(shè)置用于快速同步兩臺(tái)或多臺(tái)設(shè)備。 通過屏幕向?qū)畔⒅笇?dǎo)您在三分鐘內(nèi)完成電纜連接和設(shè)置過程。